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X射线荧光光谱仪指标信息 X射线荧光光谱仪附件信息

X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。

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指标信息

1、发射源是Rh靶X光管,最大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW

2、仪器在真空条件下工作,真空度<13pascals

3、5块分析晶体,可以分析元素周期表F~U之间所有元素,含量范围是ppm~100%

4、分析软件是philips公司(现为pANalytical)最新版软件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时,RSD=0.08%稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

附件信息

循环水致冷单元,计算机p10气体瓶空气压缩机

分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量分析,对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金,结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速,某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

荧光光谱

能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。

低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。

全反射荧光

如果n1>n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气相比都是光疏介质。所以,如果介质1是空气,那么α1>α2(图2.20右图),即折射线会偏向界面。如果α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时,界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中,这就是全反射现象。

X射线荧光光谱法有如下特点:

分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;

荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;

分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差;

分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。

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