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E类功率放大器E类功放的CMOS集成 E类功率放大器E类功放的自适应效率提高技术

E类功率放大器(功放)是一种高效率的开关类功放,并且,基于E类功放的极坐标发射机能够改善传统发射机的低效率性能。考虑到极坐标发射机对E类功放的技术需求,本文主要针对E类功放及其应用进行了三部分的研究:改进的高效率E类功放设计方法;漏极电压调制对E类功放性能的影响分析;极坐标发射机的原理验证及其幅度放大通道的非理想特性分析。

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E类功放的CMOS集成

为了做到使用相同的工艺和流程将射频和数字基带处理集成在一起,对E类功放进行CMOS集成电路设计的研究也较多。但CMOS电路的开关性能较差,击穿电压也较低,并且随着CMOS供电电压的逐步降低,高性能E类功放的CMOS集成电路设计变得比较困难,其中的一些研究成果如表所示。CMOS集成的E类功放存在的问题还包括:CMOS电路制造的元器件值偏差较大,较大的输出电容限制了E类功放的工作频率等。虽然BiCMOS工艺能够极大的提高晶体管的开关性能,使得E类功放的性能提升,但与数字基带不兼容的工艺流程使其普及仍然较困难。

E类功放的自适应效率提高技术

理想E类功放的效率是100%,但因为各种设计条件的偏差,例如元器件值、非理想开关等因素,会造成实际效率降低。显然,如果能够实时的纠正这些偏差将能够提高E类功放的效率。现在的文献主要对E类功放的零电压开关(ZeroVoltageSwitching,ZVS)条件是否满足的检测方法进行了研究。当E类功放的开关状态检测到以后,即可以通过电调器件对电路参数进行实时调整,使E类功放的开关状态返回到最佳状态,以提高效率。当然,自适应效率提高技术所添加的额外电路也会带来的系统效率下降。

E类功率放大器的典型电路

E类功率放大器的典型电路是由单个晶体管和负载两蹯所组成,在输入信号的激励下,晶休管呈开关状态。它的最大优点是管子需待管压降降至最低(即等于VcBs)时,电流才能导通一截止时需满足集电极电流降至零时,集电极电压才开始上升,以防高电压,大电流同时存在。其电路原理如图4所示。

图中V_为重复频率f。的方渡激励信号L为高频扼流囤,它的作用是一方面提供直流通路,另一方面防止高频短路,要求电抗值足够大(一般Ll≥10L2),直流电阻应小于1欧姆,以减小直流功耗。C包含L和T管的分布电容,它为电压滞后电容,当开关断开时,它使Vcc维持很低的数值,直到集电板电流下降到零后,V才开始上升。

Cl’C2与R组成二阶衰减系统,当体管断开时,起初CCz贮存能量,然后将贮存在CnCz、Lz中能量在瞬变期间提供给负载RCnCz是同一数量级,负载网络不正好调谐于激励信号的频率上E类功率放大器不足之处,首先是理论还不够完善,成熟,调试难度大,工作频率的提高亦受开关速度的限制。

关于E类功率放大器,电子元器件资料就介绍完了,您有什么想法可以联系小编。