测量物体到TDR的适配是一个要求很严的任务。举例来说，差分阻抗测量必须使用高精度的相位匹配电缆和探针。如果不能满足这个要求，偶数模式和奇数模式转换将降低测量精度。另外，探针的头应该设计得与待测设备阻抗相匹配，才能实现可能最高精度的测量。
市场上的不同系统
在越来越快的数字世界中，线路阻抗的测量业已表明是目前最重要的TDR应用。图2显示了对无干扰（绿色曲线）和有干扰（红色曲线）传输线的这种空间分辨式测量例子。
图2：正确安装SMA连接器（1，绿）和错误安装SMA连接器（2，红）时RG 405同轴电缆的反射图。
只有传输路径上所有元件（不仅包括蚀刻线，而且包括电缆、连接器甚至集成电路中的终端电阻）都是阻抗匹配的，才能在发送器和接收器之间实现无反射的信号传输，从而得到最高的比特率。因此，在评估差分和单端线的信号完整性时阻抗控制是一个很重要的因素。
开发人员和制造商可以从大量不同类型的差分TDR系统（DTDR）中选择一种用于阻抗控制：从极具成本效益的系统到特别昂贵的系统。一些著名的测量技术制造商提供高精度的高端TDR系统。这些系统可以在高速示波器领域找到，一般都结合了必要的附件，如（D）TDR探针。这些设备非常适合用来测量高达20Gbit/s及以上的传输系统。然而对高端设备制造商来说，阻抗控制似乎只是一个利基市场。因此他们不提供专用的工业化解决方案，潜在用户在达到最终的“阻抗测量”目标之前很快会迷失在无数普通的射频测量技术之中。此外，由于其高性能和通用性，所有这些系统都属于高价格领域，这使得投资缺乏吸引力，特别是如果TDR不是持续使用时。
