这就是混合测试方法吸引逻辑内置自我测试用户的所有理由。事实上，需要自发测试和高品质生产 ATPG 向量的汽车集成电路设计师已经采用了这种方法。许多人没有意识到的是，这种方法还为 ATPG 带来了显着的优势，虽然现在还没有严苛的逻辑内置自我测试要求。有了这种方法，老化不再需要测试仪来应用 ATPG 向量，因为用户能够使用逻辑内置自我测试，并且整体 ATPG 压缩和向量数目能够得到改进。
作者简介：
Ron Press 是明导硅测试解决方案产品的技术营销经理。他在测试和 DFT（可测性设计）行业有着25年的经验，曾多次出席全球各地的 DFT 和测试研讨会。他出版了数十篇与测试相关的论文，是国际测试会议 （ITC） 指导委员会的成员、IEEE 计算机学会 （IEEE Computer Society） 的 Golden Core 成员以及 IEEE 的高级会员。Press 拥有多项减少引脚数测试和无干扰时钟切换的专利。
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