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测量仪表相关技术文章基于LPC2138CPU芯片实现开关寿命自动测试系统的设计
各种各样的开关电器被应用在航空、航天、交通及一般工业或民用领域，比如微动开关、按钮开关、转换开关、电源开关等。无论何种开关，都是常开触头和常闭触头的组合，这些触头被用来闭合或断开电路。触头经过一定时间的动作以后，会逐渐丧失正常的开闭功能，比如接触不良、触头不动作等，因此任何开关都存在使用寿命。运用在一般工业及民用领域的开关电器，对开关的寿命没有严格的要求，但如果开关被应用到航空、航天和交通等领域时，开关是否良好直接关系到飞机、轮船和汽车运行时的安全，所以必须对开关的寿命提出严格的要求，要求开关制造商标明开关的触头能正常开闭的次数，因此开关制造商在开关出厂前有必要对同一批号的产品进行抽查测试，以掌握开关的确切寿命。
1 开关寿命的人工测试方法
如图1所示，开关寿命的传统测试方法是，测试人员通过观察指示灯的亮或灭来判断触头的好坏。指示灯应有的亮或灭的状态是：当开关未动作时，与常开触头相连的指示灯熄灭，与常闭触头相连的指示灯点亮；当开关动作时，与常开触头相连的指示灯点亮，与常闭触头相连的指示灯熄灭。如果某个指示灯的状态未按要求变化，说明该指示灯对应的触头已坏。测试人员在测试时对开关的动作次数进行计数，当检查到某个触头损坏时开关动作的次数就是开关的寿命。
