基于LPC2138CPU芯片实现开关寿命自动测试系统的设计 测量仪表技术文章

创新观点：本项目有两点创新，一是基于嵌入式技术来设计开关寿命测试仪的硬件，比采用工控机＋采集卡的方案节约成本，而且便于携带；二是设计了专门的算法来判断开关的好坏和识别坏触头，具有一定的独到之处。

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