存储器测试的主要目标是验证存储器件上的每一个存储位都能够可靠地储存数据。验证存储器件所需的关键测试包括验证物理连接、检查存储器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平台，例如PXI，工程师可以利用标准的编程语言（例如NI LabVIEW和C/C++）开发定制、低成本测试系统，以满足存储器测试的要求。
验证物理连接（包括存储器地址和数据I/O线）对于确保数据被正确存储在所期望的位置至关重要。地址线规定每一个操作的存储位置，而双向数据线负责将数据输入和输出存储器。如果有一个物理连接发生故障，其它测试也会出错。
存储器的功能测试由数字测试设备执行的一系列读写操作构成。每次执行读操作之后，测试系统将读取的数据与期望值做比较。测试数据线不需要重复通过存储器中的每个地址。例如，一个4位存储器只需要4次写和读操作，以完全验证数据线并核查粘着性（stuck-at）故障。通过选择单一地址，初始化时存储器各位均置为“0”，采用“进位置1”模式写入数据，工程师就可以高效地测试数据线。图2所示为4位存储器件的“进位置1”模式。测试的第一步是把“1000”写入期望的位置，然后，对该地址进行初始化读操作。如果存储器返回的数据与所写入的数据相匹配，那么就表明该数据线功能正确。采用不同的测试模式，工程师可通过类似步骤验证地址线和每一个存储位。
图1：应用于桌面的PXI混合信号测试系统。
尽管一些数字仪器可以执行这种简单的测试，但要测试更复杂的存储器件则需要成百上千的读写操作。如果用软件执行比较读入数据与每次读操作后的期望响应，那么测试时间可能会成指数级增长。
