今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从存储器和数字芯片测试的基本测试技术，cpu和随机存储存储器芯片这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章存储器和数字芯片测试的基本测试技术
存储器芯片测试介绍
存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或者是二者的结合等。根据特性的不同，存储器可以分为以下几类，如表1所示：
存储器术语的定义
在讨论存储器芯片测试之前，有必要先定义一些相关的术语。
写入恢复时间（Write Recovery Time）：一个存储单元在写入操作之后和正确读取之前中间必须等待的时间。
保持时间（Hold Time）：输入数据电平在锁存时钟之后必须保持的时间间隔。
Pause Test：存储器内容保持时间的测试。
刷新时间（Refresh Time）：存储器刷新的最大时间间隔。
建立时间（Setup Time）：输入数据电平在锁存时钟之前必须稳定保持的时间间隔。
上升和下降时间（Rise and Fall Times）：功能速度测试是通过重复地进行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完成的。测试的周期通常使用二进制搜索的办法来进行改变。这些测试能够测出芯片的最快运行速度。
