目的：这是功能测试，地址解码和单元干扰的一个最基本最简单的测试向量。它还能检查连续地址错误或者干扰错误，也通常用它作为时间测量时的向量。
Patterns Marching向量：5n行向量
执行方式：先对所有单元写0.读取第一个单元，再对第一个单元写1。再读取第二个单元，再对第二个单元写1，依此类推，直到最后一个单元。最后再重复上述操作，只是写入数据相反。
目的：这是功能测试，地址解码和单元干扰的一个最基本最简单的测试向量。它还能检查连续地址错误或者干扰错误，也通常用它作为时间测量时的向量。
Walking向量：2n^2 行向量
执行方式：先对所有单元写0，再读取所有单元。接下来对第一个单元写1，读取所有单元，读完之后把第一个单元写回0。再对第二个单元写1，读取所有单元，读完之后把第二个单元写回0。依次类推，重复到最后一个单元。等上述操作完成之后，再重复上述操作，只不过写入的数据相反。
目的：检查所有的地址解码错误。它的缺点是它的运行时间太长。假设读写周期为500ns，对一个4K的RAM进行wakling向量测试就需要16秒的测试时间。如果知道存储器的结构，我们可以只进行行或者列的walking以减少测试时间。
Galloping写入恢复向量：12^2n行向量
执行方式：对所有单元写0。再对第一个单元写1（基本单元），读取第二个单元， 然后返回来读取第一个单元。再对第二个单元写0，读第二个单元。接下来再在其它所有单元和基本单元之间重复这个操作。等第一个单元作为基本单元的操作完成之后，再把第二个单元作为基本单元，再作同样的操作。依此类推，直到所有单元都被当过基本单元。最后，再重复上述过程，但写入数据相反。
