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测量仪表相关技术文章基于扫描的DFT方法扫描设计实现过程和对芯片故障覆盖率的影响第9讲 触发器和寄存器1ppt

测量仪表相关技术文章基于扫描的DFT方法扫描设计实现过程和对芯片故障覆盖率的影响

(文章来源:电子设计应用,作者:刘玲玲;周文;夏宇闻;徐微;邵寅亮)

随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂,与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性设计)通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测性的逻辑,从而使芯片变得容易测试,大大降低了芯片的测试成本。目前比较成熟的可测性设计主要有扫描设计、边界扫描设计、BIST(Built In Self Test,内建自测试)等。本文通过对一种控制芯片的测试,证明通过采用插入扫描链和自动测试向量生成(ATPG)技术,可有效地简化电路的测试,提高芯片的测试覆盖率,大大减少测试向量的数量,缩短测试时间,从而有效地降低芯片的测试成本。

基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理

时序电路中时序元件的输出不仅由输入信号决定,还与其原始状态有关,因此,对它的故障检测比组合电路要困难的多。扫描设计就是将时序电路转化为组合电路,然后使用已经很成熟的组合电路测试生成系统,来完成测试设计。

扫描设计可将电路中的时序元件替换为相应的可扫描的时序元件(也叫扫描触发器),然后把它们串起来,形成一个从输入到输出的测试串行移位寄存器(即扫描链),以实现对时序元件和组合逻辑的测试。