今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从基于Z扫描测量系统的软硬件电路的设计，lmh6518接比较器这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章基于Z扫描测量系统的软硬件电路的设计
引 言
Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法，使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料的激光能量大小与光电接收器转换后获得的电压幅值成某种比例关系，因此通过测量光电接收器转换后的电压幅值就可以很方便地计算出光学材料的非线性折射率大小、正负以及非线性吸收系数。由于光脉冲的宽度较窄，其宽度约为几个ns，因此通常采用高频数字示波器测量其信号的幅值，然而高频数字示波器虽然能够得到准确的数据，但是其价格昂贵，体积较大，不适合形成一个独立的光学测量系统。本文给出的测量系统，采用高速并行A／D转换的方法，不但能够实时检测出光电转换后的电压幅值的数据，同时通过高速并行比较器基准电压的调节能自动滤除不需要的数据，避免了PC机处理大量冗余数据，有效缩短了数据采集的周期。
1 测量系统总体结构
Z扫描测量系统如图1所示，包括激光器、分光镜、聚光透镜组、被测样品、反射镜和光电转换二极管。高频窄脉冲信号幅值测量系统组成如图1所示，系统主要包括三个部分，如图2所示。
