图10显示了把CVU的CVHI端子、CVLO端子和CV Guard端子通过4200A-CVIV的输出连接到BJT的三个端子上。在这个实例中，CV Guard通过4200A-CVIV的通道3切换到BJT的集电极端子上，这样就可以测量CVHI和CVLO之间的基极发射器电容。
图10. 从4200A-CVIV连接到BJT，进行有保护的测量。
Clarius软件允许用户自动改变4200A-CVIV的输出，从而可以保护器件的任意端子。图11显示了Clarius中的CVIV多通道开关Channel Config设置。
图11. 在BJT上进行基极发射器电容测量时的cviv-configure设置。
表1 提供了各种测量问题的排障方式，供参考。
表1. C-V 测量排障表
通过使用CVU 内置测量工具、正确的线缆和连接及相应的测量技术，可以轻松实现良好的电容测量。CVU提供了许多内置工具，包括补偿、定时参数和置信度检查。
泰克公司的Keithley 4200A是一台集成化的多功能的电学测试系统。常用于微电子、物理、化学，甚至生物等学科的电学测试。可以测试的参数曲线包括直流IV（I-t/V-t）/CV/pulse IV及基于这些曲线的其他特性参数的测试。
关于测量仪表就介绍完了，您有什么想法可以联系小编。
