在某些情况下，测量输出回波损耗可能需要对测试配置进行微调，如图8所示。PA输出端和VNA端口2之间所需的衰减可能相对较高，尤其是对于高增益PA。在这种情况下，高PA增益和相对较低的回波损耗会产生功率极低的反射信号，并由VNA的端口2进行测量。因此，对高增益PA进行精确的S22参数测量通常需要使用衰减器来生成比放大器增益更低的损耗。在这些情况下，通常针对S11、S12和S21测量使用一个衰减值，针对S22测量使用另一个衰减值。
在生产测试中使用STS快速测量S参数
NI半导体测试系统（STS）是一款全自动化生产测试系统，采用全新的方法来测量生产测试中的S参数。该系统结合了端口模块（port Module）与NI矢量信号收发器（VST）。除了开关和预选功能之外，端口模块包含的定向耦合器可以有效地将VST转换成VNA。因此，可以在生产测试环境下快速测量S参数，而不需要使用其他仪器。S参数测量使用多端口校准模块进行校准，该模块可以自动校准多达48个RF端口。
测量S参数
VNA可用于测量反向隔离和回波损耗
在大信号条件下测试PA时，测试配置要复杂得多。在大信号条件下，很大一部分输出能量被转换为谐波，而无法被传统VNA捕捉到。因此，完整分析PA的大信号性能特征的需要使用大信号网络分析仪（LSNA）或负载牵引测试台，如图9所示。由于在大信号条件下测量S12和S21系数更加困难，一种解决方法是将S21系数性能作为输入和/或输出阻抗的函数进行测量。在这种情况下，可编程调谐器放置在待测设备的输入或输出端。
基本负载-牵引测试配置
