用于实现高品质全速测试程序的方法建议 测量仪表技术文章

在ATPG过程中只约束X轴的时序例外路径端点。这种传统方法将降低测试覆盖率，并导致测试图案仪上有更多的X点。它会屏蔽掉适用于其它全速测试路径的观察点，使芯片的某些部份无法被测试到。

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