由于读写操作都是基于字的，因此采用基于字的检测方法，把失效检测划分成三部分，字间失效检测、字内失效检测和同时读写失效检 测。下面以3位字长的单向双端口存储器为例来说明测试算法。
字间失效检测
字间检测采用传统的队列测试算法，March C+算法覆盖了固定0/1失效，固定开路失效和转换失效，地址失效和字间耦合失效，基于字的MarchC+算法表示为：
时间复杂度为14B，B为存储器字的容量。
字内失效检测
字内检测针对字内各存储位之间的耦合失效，考虑字内任意一位会受到两侧相邻位的耦合，可以构造出图2中的状态图。图2覆盖了所有的状态和相邻位之间的耦合失效，圆圈表示相邻三位的状态，连线上的符号表示由状态转换引起的失效类型，以〈W1，W1：↓〉为例，表示了对两侧相邻位写入1时置中间位为0，则时写入111并读出可以检测这一失效。因此，对相邻三位执行下列操作序列，
Write000，Write111，read111，read111，Write000，read000，read000，
Write001，Write110，read110，read110，Write001，read001，read001，
Write010，Write101，read101，read101，Write010，read010，read010，
Write011，Write100，read100，read100，Write011，read011，read011，
可以检测出相邻位之间的耦合失效。在测试序列中包括了两次连续的读出，第一次读出检测由前一次写操作引起的失效，第二次读出检测由第一次读出引起的失效。
将上述的检测序列转化成队列测试的形式，得到如下的结果：
