SST89E58CD2特性如下:

80C51核心处理单元;

5V的工作电压,操作频率为0-40MHz;

64KB的片内FLASH程序存储器,具有ISP(在系统编程)和IAP(在应用中编程)功能;

通过软件或ISP选择支持12时钟(默认)或6时钟模式;

SPI(串行外围接口)和增强型UART;

PCA(可编程计数器阵列),具有PWM和捕获/比较功能;

4个8位I/O口(P0-P3),1个4位I/O口(P4);

3个16位定时器/计数器;

可编程看门狗定时器(WDT);

10个中断源,4个中断优先级;

2个DPTR寄存器;

低EMI方式(ALE禁能);

兼容TTL和CMOS逻辑电平;

掉电检测;

低功耗模式(掉电模式,外部中断唤醒,空闲模式)。

3、智能测试系统原理

基于单片机的智能测试系统的设计和应用范围

本智能测试系统以SST89E58RD2为核心,其原理框图如图1所示,包括:

SPI口线 主要用于向被测主板进行程序下载和通讯;

I2C总线 向被测主板中的外部E2PROM读取数据;

RS232电路 用于与上位计算机的通信;

外部FLASH 主要存放被测主板的程序目标代码,选用AT29C010A;

指示灯电路,每个故障点用一个指示灯指示,总数有32个,用4片74HC595做输出驱动电路;

2个步进按钮 用于测试过程中的步进控制,其控制线直接连到SST89E58RD2的P1.1,P1.2口线上;

LED显示 用于测试步进的显示,用1片74HC595控制;

DI输入电路 选用74HC165逻辑芯片,并入串出;

DO输出电路 选用74HC595逻辑芯片,串入并出;

由于单片机外围接口芯片较多,故采用GAL16V8D作为控制译码电路。

4、智能测试系统功能