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测量仪表相关技术文章实现集成芯片测试系统的软硬件设计

在高校的教学实验环节中,需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前,市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪,但是考虑到其价格较贵,较难满足学生人手一台;另外,该测试仪器是面向工程单位的,不能测试实验室中很多数字芯片。因此,从节约经费、提高利用率的角度出发,我们采用AT89C52单片机设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS系列芯片及一些常用按键开关的功能检测,同时通过RS232串行口与PC机相连,可以在PC机上直接对测试系统进行操作。

1、系统组成框图

由图1可知,该测试仪的硬件电路由AT89C52单片机,并行扩展接口8155,显示驱动,键盘输入,看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。

实现集成芯片测试系统的软硬件设计

按照芯片测试插座旁边的指向,插入待测的数字芯片或按键;通过键盘输入指令或数字,单片机经过键盘扫描从8155读回键值,根据键值执行相应的子程序。假设输入测试命令键,单片机将调用测试子程序,并将测试结果送到显示器上显示(“good”or“bad”);假设输入数字键,单片机会自动将输入的数字显示到显示器上;假设输入其它命令键,单片机将调用相应的功能子程序,执行相应的命令。