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测量仪表相关技术文章基于NI LabVIEW开发平台实现IC芯片表面标识自动识别系统的设计
系统简介
我们使用LabVIEW、IMAQ Vision和IMAQ Vision Assistant等软件进行系统开发。LabVIEW特有的数据流式编程、IMAQ Vision强大的图像处理能力以及IMAQ Vision Assistant的代码自动生成功能极大地缩短了系统的开发周期、降低了成本。
图1所示为IC芯片表面标识自动识别系统的工作流程。这里使用NI公司的PXI-1409图像采集卡和MBC-5051黑白摄像机进行图像采集，然后将采集到的图像送入计算机进行处理。为了提高识别的灵活性，系统加入了学习模块，与识别过程类似，它也包括图像预处理、文字区域裁剪、细化以及特征量提取的过程，不同的是，学习过程直接将提取到的特征量保存到计算机上，而识别过程则需要将这些特征值与已经存储了的特征值一一比较完成匹配。
图1 识别系统的工作流程
芯片自动跟踪定位
芯片一旦进入摄像头视场，则能被系统感知，系统会开始对该芯片进行自动跟踪，确保ROI区域始终包含芯片，从而缩小了待处理的图像尺寸，减小了运算量。在这个过程中，系统主要完成了三个动作：阈值化采集到的图像，定位一个尺寸大于某一阈值的物体，根据该物体的位置信息设置ROI。因此通过IMAQ Vision，很容易就能够实现该定位功能。用户只需要对第一个动作中的灰度阈值和第二个动作中物体尺寸进行设置。
