-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意:AT系列不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个模块。

测试通道

标准提供多达128个测试通道, 可设定用于不同的元器件封装。

升级模块:64通道

可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

•一般模式: 扫描信号是以一固定管脚为参考点, 测试信号施加到待测元器件上。

•矩阵模式: 扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点, 测试信号循环组合施加到待测元器件上。

数据库

用户可根据自己的需要,用性能完好的器件创建ic的测试数据库,以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间,操作十分简单容易。

结果比较型式:

将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较, 即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:

•与数据库中元件比较: 被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较

• 被测IC之间比较比较: 多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。

软件- 灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能,以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库,

2)软件可以自定义各个通道的使用,一台机器可以同时检测多个器件

报告

1)软件可产生一详细的测量报告, 包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。

2)用户可处理集成电路的各种信息; 集成电路的动态阻抗图可储存在pc中,并可随时读出, 以与新的扫瞄阻抗图作比较。

3)为了今后使用方便, 可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。