今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息,接下来我将从示波记录仪选择和连接探头时的注意事项有哪些,测试工程师的学习能力这几个方面来介绍。

测量仪表相关技术文章示波记录仪选择和连接探头时的注意事项有哪些测试工程师的学习能力

测量仪表相关技术文章示波记录仪选择和连接探头时的注意事项有哪些

对于工业环境中的许多电气测量项目,高阻抗DMM或记录仪是合适的工具。这些测试仪器的输入阻抗相对较高(》1MΩ),因此连接后不会成为在测电路的负载。这些测试工具通常不会影响电路的运行或电路的测量。

另一方面,当今的测试工程师可能无法避免在高阻抗测试点或反馈控制电路内的测试点上进行测量。在这些环境下测量可能对测量结果和DUT的正常运行有不利影响 – 除非采取正确的预防措施。

横河示波记录仪初用须知

除了测量低电平(例如低于10mV)、低频率(《 1MHz)信号以外,都应考虑使用10:1无源探头。即使进行低频率、低电平测量,您可能也需要10:1探头提供的性能。

这是什么原因? Yokogawa专家解释因为1:1探头产生的负载效应高于10:1探头。虽然1:1探头不会对多数测试点施加负载,但可能对高阻抗测试点施加负载。实际上,在500kΩ的测试点上,由于存在电阻性负载,1:1的探头设计可能产生将近35%的误差! 但是,在同一测试点上,负载效应只会让10:1的探头产生5%的误差。这是负载效应引起的测量误差。测量误差本身足以成为问题,而且当探头连接到DUT时,DUT也可能受到某种方式的影响。也就是说,探头的负载效应可能带来副作用。如果测试点是反馈回路或闭环回路的一部分,测量时也要格外注意。反馈电路通常具有高阻抗节点。使用不合适的探头探测这些类型的电路或系统可能严重影响反馈电路的相位裕度,导致状态变化、不稳定和/或振荡,甚至故障停机。此效应通常在探测高阻抗节点或测试点时较为显著,使用高阻抗探头(如10:1探头甚至FET探头)或采取其它预防措施可最大限度降低此效应。