2．2 测试软件设计
单片机软件采用C语言编写，以便于程序维护和扩展。软件流程图如图4所示。单片机上电后处于空闲等待状态，被测芯片插座与电源断开。当收到上位机发来的测试命令、芯片型号和封装等信息后，首先根据封装类型给对应电源管脚上电，再根据命令类型选择测试矢量来源（即决定使用固化的数据还是用户数据）。测试完毕后，如果先前命令是“功能测试”，仅将判别好坏的结果返回上位机，如果是“逻辑分析”，则需将响应矢量发回上位机，由上位机根据响应矢量数据生成波形图。
2．3 测试矢量与响应矢量设计
测试矢量和响应矢量是测试操作的基本数据结构。测试矢量是欲向芯片管脚施加的激励数据，响应矢量是单片机从芯片管脚读回的数据。两者均为16位，与芯片管脚一一对应。测试矢量的16位数据中对应于芯片输入管脚的那些数据位是激励位，对应于输出管脚的数据位是功能正确时的响应。对于功能测试，测试矢量预先根据真值表生成并存于单片机FLASH中。如果是逻辑分析，测试矢量由用户提供。响应矢量中仅对应于芯片输出管脚的那些数据位有意义，单片机通过读取芯片管脚状态获得响应矢量。
一个完整的测试过程包含施加测试矢量、读取响应矢量、响应矢量比较3个步骤。为了简化操作，单片机采用端口读写方式，这样一个16位的矢量只需2次8位读或写操作即可完成。需要注意的是，响应矢量与测试矢量的比较仅对其中的芯片输出位有意义，由于程序中采用字节比较方式，应采取措施屏蔽掉输入位对比较结果的影响。针对这个问题，设置了16位的屏蔽矢量，该矢量将对应于芯片输入管脚的数据位置“0”，对应于芯片输出管脚的数据位置“1”。在执行比较操作前，先将测试矢量和响应矢量分别与屏蔽矢量进行位与后再比较，从而消除了输入位对比较结果的影响。屏蔽输入位的流程如图5所示。
