连接器件
正确连接被测器件 （DUT） 对进行灵敏的低电容测量至关重要。为获得最好的测量结果，应只使用随机自带的红色 SMA 电缆把 CVU 连接到 DUT。红色 SMA 电缆的特 性阻抗是 100W。并联的两条 100W电缆的特性阻抗是50W，这是高频源测量应用的标准配置。随机自带的附件可以使用BNC或SMA连接连到测试夹具或探头。使用随机自带的扭矩扳手，紧固SMA电缆连接， 确保接触良好。
图 1 显示了2线传感的CVU配置。HCUR 和 HPOT 端子连接到BNCT形装置连接， 构 成 CVH（HI）； LCUR和LPOT连接在一起，构成 CVL（LO）。图2是DUT 4线传感实例。 在本例中，HCUR 和 HPOT 端子连接到器件的一端，LPOT 和 LCUR端子连接到器件的另一端。我们使用到器件的4线连接， 通过尽可能靠近器件测量电压，来简化灵敏的测量。
图 1. 2线传感的 CVU 连接。 图 2. 4 线传感的 CVU 连接图。
不管是2线传感还是4线传感，同轴电缆的外部屏蔽层必须尽可能近地连接到器件上，以使屏蔽层的环路面积达到最小。这降低了电感，有助于降低谐振效应， 这种效应在 1 MHz 以上的频率时可能会带来负担。
所有电缆要固定好，避免移动，因为在执行偏置测量和实际 DUT 测量之间发生的任何移动，都可能会略微改变环路电感，影响补偿的数据。
在测量非常小的电容时，DUT屏蔽变得非常重要， 以降低由于干扰引起的测量不确定度。干扰源可以是AC信号，甚至是物理移动。金属屏蔽层应封闭DUT，连接到同轴电缆的外壳上。对低电容测量，最好使用 4 线传感，但如果电缆较短， 并采用了补偿技术，使用 2 线传感也能实现最优测量。
