“借助于NI在全球测试领域最高的专业度以及对模拟、射频测试的广泛支持，我们可以将PXI测试平台应用在纳芯微多款芯片的测试中，包括隔离ADC、隔离运放以及车规级的传感器调理芯片等。”纳芯微电子CTO盛云表示：“通过使用PXI测试平台，我们实现了从实验室验证测试到量产ATE测试的一致性，包括测试程序、数据格式、测试标准均得到了统一，减少了测试程序的开发时间，有助于我们在测试IP化上的积累，同时也使我们在芯片测试上更加规范化，从而提升产品质量。”
上海孤波科技有限公司总经理周浩表示： “配合NI平台的灵活性和开放性，孤波科技提供的半导体测试标准软件架构解决方案和测试IP，能够有效运用于纳芯微的多款芯片，带给客户开箱即用的体验，从而大大降低了测试方案的制订、开发、调试、部署、维护耗时，打通了从first silicon verification到characterization，再到ATE量产过程的各个测试环节，实现测试自动化，提高测试覆盖率，帮助客户大大降低测试成本、加速产品上市时间。”
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