数据采集电路读取被测芯片输出响应，采用双电压比较器LM393进行输出信号控制。它的功耗低，比较精度高，并且可与TTL逻辑相兼容。LM393输出与74LS373数据锁存器相联，由单片机控制读入比较数据。
电压驱动D/A电路完成VI测试过程中阶梯电压的输出。采用8位并行D/A转换器MC1408.芯片电源电压为+5V，－12V两种。参考电压由恒流稳压源TL431提供。输出选择双极性输出，由两级放大电LM348完成。
电流变换采集A/D电路实施测试点电流数据的采集。电路中采用负载电阻及差分放大电路LM343对测试点进行电压跟随，将测试点的电流值转换为A/D变换电路可以处理的电压量。选用AD7574八位逐次比较式高速A/D变换电路。转换时间为15μS，单+5V电源供电。参考电压选用VREF=-8V.输入电压范围为0~+|VREF|。程序控制芯片RD端产生一个负脉冲就可启动A/D转换。
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2、软件模块：测试仪由便携式主控计算机通过串行口进行控制，单片机测试平台完成激励控制、数据采集等工作，所有数据分析处理及命令控制由便携式主计算机完成。整套测试软件由主控软件、数据通信软件、离线测试软件、在线功能测试软件、在线状态测试软件、VI特性测试软件、节点电压测试软件、电子手册、测试开发软件、系统自检软件等几个主要模块组成。
三、测试仪主要功能
测试仪采用电路在线测试技术，可以用来在线或离线测试分析各种中小规模集成电路芯片的常见故障，测试模拟、数字器件的V/I特性。
数字芯片的功能测试测试的基本原理是检测并记录芯片的输入/输出状态，将其记录的状态与标准的状态真值表进行比较，从而判断被测芯片功能是否正确。数字芯片的状态测试电路板上每个数字器件，在加电后都有三种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出之间的逻辑关系。当器件发生故障后，其状态特征一般都要发生变化。
测试仪能够把好电路板上的各IC器件的状态特征提取出来，存入计算机的数据库中，然后与同类有故障的电路板进行比较，从而准确地找出故障部位。
VI特性测试分析该项测试功能建立在模拟特征分析技术基础上，可用于模拟、数字、专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件的测试。测试仪通过测试探棒或测试夹自动把被测点的特征曲线提取出来，显示在微机屏幕上，最后存入计算机。进特故障诊断时，将实测到的VI曲线与事先存贮的标准曲线进行比较，进而发现故障。节点电压测试由于测试仪测试对象不仅包括数字电路器件，也包括大量的模拟电路器件，为进一步提高测试仪的适用范围，在测试仪中采用了节点电压测试技术。通过对被测对象施加工作电压，由计算机读取测试节点的电压响应值，并建立标准测试信息库，供操作人员分析和判断故障部位。
