2.5 单端TDR差分插入损耗法
单端TDR差分插入损耗法（Single-Ended TDRto Differential Insertion Loss，简称SET2DIL）有别于采用4端口VNA的差分插损测试，该方法使用两端口TDR仪器，将TDR阶跃响应发射到差分传输线上，差分传输线末端短接，如图7所示。SET2DIL法测量典型的测量频率范围为2 GHz ~ 12 GHz，测量准确度主要受测试电缆的时延不一致和被测件阻抗不匹配的影响。SET2DIL法优势在于无需使用昂贵的4端口VNA及其校准件，被测件的传输线的长度仅为VNA方法的一半，校准件结构简单，校准耗时也大幅度降低，非常适合用于PCB制造的批量测试，如图8所示。
3 测试设备及测试结果
采用介电常数3.8、介质损耗0.008、RTF铜箔的CCL分别制作SET2DIL测试板、SPP测试板和Multi-Line TRL测试板；测试设备为DSA8300采样示波器和E5071C矢量网络分析仪；各方法差分插入损耗测试结果如表2所示。
4 结语
本文主要介绍了目前业界使用的几种PCB传输线信号损耗测量方法。由于采用的测试方法不同，测得插入损耗值也不一样，测试结果不能直接做横向对比，因此应根据各种技术方法的优势和限制，并且结合自身的需求选择合适的信号损耗测试技术。
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