blmem_control_setup @设置存储控制器
ldr sp， =4096 @设置栈指针，以下C函数调用前需要设好栈
bl init_clock@设置MPLL，改变FCLK、HCLK、PCLK
bl init_nand@初始化NandFlash
@将NandFlash中地址4096开始的代码复制到SDRAM中
ldrr0， =0x30000000@目标地址=0x30000000，SDRAM起始地址
movr1， #4096@源地址=4096，连接时代码在4096开始处
movr2， #16*1024@复制长度=16K，对于本实验足够
blread_nand @调用C函数read_nand
blclean_bss@清除bss段
msr cpsr_c， #0xd2 @进入中断模式
ldr sp， =0x31000000 @设置中断模式栈指针
msr cpsr_c， #0xdf@进入系统模式
ldr sp， =0x34000000 @设置系统模式栈指针
ldr lr， =ret_initirq @设置返回地址
ldr pc， =init_irq@初始化中断
ret_initirq：
msr cpsr_c， #0x5f @设置I-bit=0，开IRQ中断
ldr lr， =halt_loop@设置返回地址
ldr pc， =main@调用main函数
halt_loop：
b halt_loop
★main.c文件实现实现串口选择ADC和TouchScreen操作，主要代码：
#include
#include
#include
int main（）
{
char c;
init_uart0（）;//波特率115200，8N1（8个数据位，无校验位，1个停止位）
while （1）
{
printf（“rn~~~~~~ Test ADC and Touch Screem ~~~~~~rn”）;
printf（“［A］ Test ADCnr”）;
printf（“［T］ Test Touch Screemnr”）;
printf（“Enter your selection： ”）;
c = getc（）;
putc（c）;
switch （c）
{
case ‘a’：
case ‘A’：
{
Test_Adc（）;//操作ADC
break;
}
case ‘t’：
case ‘T’：
{
Test_Ts（）;//操作TouchScreen
break;
。..
}
★adc_ts.c ADC和触摸屏的测试函数，主要代码：
。..
/*
* 使用查询方式读取A/D转换值。
* 输入参数ch： 模拟信号通道，取值为0~7
*/
static int ReadAdc（int ch）
{
//选择模拟通道，使能预分频功能，设置A/D转换器的时钟 = PCLK/（49+1）
ADCCON = PRESCALE_EN | PRSCVL（49） | ADC_INPUT（ch）;
//清除位［2］，设为普通转换模式
ADCTSC &= ~（1《《2）;
//设置位［0］为1，启动A/D转换
ADCCON |= ADC_START;
//当A/D转换真正开始时，位［0］会自动清0
while （ADCCON & ADC_START）;
//检测位［15］，当它为1时表示转换结束
while （！（ADCCON & ADC_ENDCVT））;
//读取数据
return （ADCDAT0 & 0x3ff）;
}
/*
* 测试ADC。通过A/D转换，测量可变电阻器的电压值
*/
void Test_Adc（void）
{
int vol0， vol1;
printf（“Measuring the voltage of AIN0 and AIN1， press any key to exitnr”）;
