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智能介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,智能介质损耗测试仪用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)测量。
智能介质损耗测试仪优点
智能介质损耗测试仪仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰能力强、测试速度在国内同类产品中最快的优点。
智能介质损耗测试仪工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路:
1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。
2、数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、精确、可靠。
智能介质损耗测试仪技术指标
1、环境温度:0~40℃
2、相对湿度:30%~70%
3、供电:电压:220V±10%、频率:50±1Hz
4、外形尺寸:500mm×300mm×400mm
5、重量:约18Kg
6、输出功率:0.6KVA
7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位)
8、测量范围及输出电压选择:
介质损耗(tgδ):±0.00~±999%
试品电容容量(Cx)和加载电压:
2.5KV档:≤300nF(300000pF)3KV档:≤200nF(200000pF)
5KV档:≤76nF(76000pF)7.5KV档:≤34nF(34000pF)
10KV档:≤20nF(20000pF)
9、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA)
介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA)
电容容量(Cx):1.5%±1.5pF
关于智能介质损耗测试仪,电子元器件资料就介绍完了,您有什么想法可以联系小编。