对第二个扇区，以下一个地址阶21作为地址增量的变化量，每次用不同的地址位作为最低位（分别为第0位和第1位），使地址以此增量的变化通过所有可能的地址。因此在一次测试程序中所有地址的存储单元都被测试一次。
然后，依次以22、24…2N作为地址增量，重复上述过程，每完成一个循环便产生一个循环进位。
由于各个扇区的大小不同，移动变反法功能测试图形步长为3n（n为最大扇区存储单元个数）。以扇区为单元的测试实际上是一种对芯片功能的抽测，因为它并没有进行对各单元存取数据进行反复打扰，以验证其地址线间信号改变所带来的影响，但这种方法分别在各个扇区对邻近地址线一一做了打扰测试，由于各个扇区结构根本上是相同的，因此这种抽测很有代表性，并且把测试时间减少了一个数量级。
移动变反法测试图形是一种良好的折衷测试方案。因为它几乎具有各种测试图形的最好特点，可以用较少的试验步数测试尽可能多的存储单元间打扰的相互影响。在具体程序中，“1”场变反为“0”场是按序选择地址，并通过写入这些地址而产生的，在两次读出之间有一次写操作。移动变反法测试包括了功能测试和动态测试，功能测试保证被测存储单元不受读、写其他存储单元的影响，动态测试预测最坏和最好条件下的取数时间，并预测地址变换对这些时间的影响。
这种测试方法易于实现，它是在跳步算法的基础上，通过改变跳步的长度，减小了算法的复杂度。移动变反法测试是一种具有良好功能测试和动态测试特点的测试图形，并且所需的测试时间较短，在很多情况下都有很好的效果。尤其是对于较大容量存储器的测试，该方法特别有效。
