使用此策略，在插入扫描链后，当MUX选择器处在扫描状态时，扫描时钟就会连接到后续的触发器，并将其连接到扫描链上，这样就会大大提高故障覆盖率，从而提高测试覆盖率。
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3．3 IP隔离技术
设计之中要用到很多IP模块，在综合后的网表中表现为一个个没有具体电路的“黑匣子”，这些“黑匣子”的存在使得部分时序组合电路不能或者很难进行基于扫描路径法的DFT设计，需要利用其他的DFT设计工具进行可测性设计，例如在本设计中采用的RAM和ROM存储器模块。
因此为确保与IP相连的下级时序电路部分能够被正常设计的扫描链覆盖，增加触发器的可测范围，采用的解决方案是用软件命令解决的方法将此类IP模块隔离，暂时不将此模块进行DFT设计，其实现原理如图7所示。
通过此种方法可以有效地将一个或多个类似的IP模块与原电路软隔离开。当电路工作在非扫描状态下，数据按照正常的数据流方向流、进流出IP模块；当电路工作在扫描状态时，扫描数据绕过相应1P模块，按照相应的扫描链路径流进下级时序电路部分，实现扫描测试的功能。
这种方法既不破坏原来芯片电路的结构和整体实现的功能，同时也保证了DFT设计的顺利进行，提高了本芯片可测性设计的覆盖率。
4 结果分析
4．1 测试结果
当没有采用任何设计策略时，本芯片的测试覆盖率只能达到30％～40％左右，远远达不到要求的性能指标。
