今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从基于C-V测量的最佳电容和AC阻抗测量方案，维氏硬度计压痕图像测量系统这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章基于C-V测量的最佳电容和AC阻抗测量方案
作者：泰克科技
各种各样的应用通常要在许多类型的器件上执行电容-电压（C-V）和AC阻抗测量。例如，C-V测量用来确定以下器件参数：MOSCAPs的栅极氧化物电容、MOSFET输入和输出电容、太阳能电池的内置电位、二极管的多数载流子浓度、BJT端子间的电容、MIS电容器的氧化物厚度、掺杂密度和门限电压。
C-V测量
4215-CVU和4210-CVU都是适用于4200A-SCS参数分析仪的多频（1 kHz ~ 10 MHz） AC阻抗测量模块（参见图1），让用户能够轻松进行C-V测量。这两种CVU之间的差异在于测试频率数量和AC驱动电压。4215-CVU拥有10，000个不同频率，分辨率为1 kHz；4210-CVU拥有37个不同频率。4215-CVU的AC驱动电压范围是10 mV ~ 1 V rms，4210-CVU的AC驱动电压范围是10 mV ~ 100 mV rms。
图1. 4200A-SCS参数分析仪。
CVUs采用独特的电路设计，通过Clarius软件控制，支持多种特性和诊断工具，确保测量结果的准确度达到最高。CVU拥有多种内置工具，如实时测量模式、开路、短路补偿、参数提取生成器、滤波、定时控制，并能够在软件中切换AC电流表端子。除外，它还采用适当的线缆和C-V测量技术，用户可以进行高度灵敏的电容测量。
