CVU测量概述
图2是简化的4210-CVU和4215-CVU模型。器件的电容通过提供AC电压，测量AC电流和相位来确定，同时在器件中应用或扫描DC电压。
图2. 简化的CVU图
时域AC值被处理到频域中，生成相量形式的阻抗。CVU使用自动平衡电桥（ABB） 方法测量电容。ABB用来抵消DUT 一个端子（ 如果AC电流表在LCUR上则为LPOT） 上已知频率的AC信号，以警戒杂散阻抗。这个AC接地会把CVU的LPOT保持在0 VAC，这样测试电路中的所有AC电流都会流到AC电流表，而不会经过测试电路中的任何并联电容。
根据测试设置，包括频率、AC驱动电压和电流范围，CVU可以测量皮法级到毫法级电容。用户指定的测试范围取决于被测器件和导出的参数。测试频率范围为 1kHz~10MHz。DC 偏置功能是 ±30V（60V差分 ）。
测量模型和参数
DUT测量的典型模型通常是一条串联或并联电阻电容（RC） 电路。如图3中简化的模型所示，CVU既可以作为串联配置（RSCS） 测量DUT，也可以作为并联配置（RPCP） 测量DUT。
图3. 简化的测量模型
CVU可以测量和显示以下参数：阻抗和相位角（Z，Theta），电阻和电抗 （R+jX），并联电容和电导（CP-GP），串联电容和电阻（CS-RS），并联电容和杂散因子 （CP-D），串联电容和杂散因子（CS-D），导纳和相位角（Y，theta）。
