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先进的技术改进和全新的体系结构使日益复杂的天线能够用于各种应用，包括航空航天和无线领域的雷达和卫星通信。这些复杂的天线，例如相位阵列波束控制天线可以极大地增加必要的数据数量，以全面表征复杂阵列，但它同时也会增加总体测试时间。天线测试工程师的责任是确保天线的精确表征，使其满足技术指标的要求，但是要快速而精确地完成此项复杂的工作却是一个非常艰巨的任务。这就需要一个快速、精确、具有高测量灵敏度并且能够处理大量数据的解决方案。
天线测量、RCS 和测试区域
测试天线时，天线测试工程师通常必须测量大量参数，例如辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。用于测量天线辐射方向图的技术之一是远场测量，其中被测天线（AUT）安放在发射天线区域的远场。第二种技术是近场测量，其中 AUT 安放在近场，然后通过数学方法将数据换算成远场。雷达截面（RCS）测量用于测量雷达目标和角度有关的回波特性。根据天线和应用的不同，近场、远场或 RCS 测试将是适当确定 AUT 的幅度和/或相位特性的首选技术。
