今天小编要和大家分享的是测量仪表相关信息，接下来我将从基于单片机和FPGA实现低频段数字式频率特性测试仪的设计，完成稿-基于单片机的多功能测试仪设计.docx这几个方面来介绍。
测量仪表相关技术文章基于单片机和FPGA实现低频段数字式频率特性测试仪的设计
1 引言
频率特性是一个网络性能最直观的反映。频率特性测试仪用于测量网络的幅频特性和相频特性，是根据扫频法的测量原理设计，是一种快速、简便、实时、动态、多参数、直观的测量仪器，可广泛应用于电子工程等领域。由于模拟式扫频仪价格昂贵，不能直接得到相频特性，更不能打印网络的频率响应曲线，给使用带来诸多不便。为此，设计了低频段数字式频率特性测试仪。该测试仪采用数字直接频率合成技术专用的集成电路AD985l产生扫频信号，以单片机和FPGA为控制核心，通过A/D和D／A转换器等接口电路，实现扫频信号频率的步进调整、数字显示及被测网络幅频特性与相频特性的数显等。该系统成本低廉，扫频范围较宽（10 Hz～1MHz），可方便地与打印机连接，实现频率特性曲线的打印。
2 多功能计数器设计方案
2．1 幅频和相频特性测量方案
方案1：利用公式H（s）=R（s）/E（s），以冲击函数为激励，则输出信号的拉氏变换与系统函数相等。但是产生性能很好的冲击函数比较困难，需要对采集的数据做FFT变换，需要占用大量的硬件和软件资源，且精度也受到限制。
