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测量仪表相关技术文章NI STS系统的常规保养维护和基本操作介绍
NI于2014年推出的NI STS,基于实验室仪表级别精度的模块化仪器,同时满足测试精度和量产测试覆盖率的需求。NI STS是基于模块化仪器的PXI平台,因此,NI STS可以不断扩展以满足日益增多以及定制化的测试需求。
图1. NI 半导体测试系统内部架构
NI STS 具有统一的测试平台—— PXI 平台,可根据设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门轻松共用资料,进而降低成本。此外,PXI 平台开放式与模块化的设计,使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源,进一步提升半导体测试效率。
NI不断在PXI平台上提供最顶尖的仪器技术来满足半导体产业的测试任务。在这样的平台下,在实验室和产线中内部构造基本一致。在实验室中使用到的高性能的仪器在产线中依然可以使用,并加入如分选机(Handler)/探针(Prober)的集成、标准Docking(包括Soft Dock/Hard Dock)、待测弹簧探针连接、STDF数据报表生成和系统校准等特性,可轻松集成到生产测试满足半导体产线测试的要求。