同样在实验室和量产测试使用统一开发环境LabVIEW和测试管理执行软件TestStand，可最大化复用实验室中的代码，减少数据关联（Correlation）时间，进一步提升半导体测试效率。
图 2. FT 测试
为了帮助半导体工程师更好的使用NI STS，小编特意为大家准备了STS 系列培训教程（有详细视频讲解哦），今天先讲从“STS Test Head”开始~
NI STS使用培训系列目录
① STS Test Head
NI STS 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 组成。T1、T2和 T4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的 18 插槽 NI PXI 机箱的数量（T1 - 一个 PXI 机箱;T2 - 两个 PXI 机箱;T4 - 四个 PXI 机箱）。本节介绍了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本视频展示了 NI STS 输入和输出面板及其在测试单元内集成的功能。
② STS Operator Interface
本章介绍了在STS上运行测试的流程。OI（操作员界面）由多个控件和显示框组成，它们用于配置测试站、输入批次信息、执行测试以及查看良率、分bin信息和测试结果。
③ Tester Admins
本章提供了创建可启动 USB 驱动器的参考指南以及使用 Acronis Image 工具加载 STS 控制器镜像的过程。由于 OI 是客户端高度定制的操作员界面，因此我们还介绍了如何修改工厂的默认 STS 操作员界面并满足客户的特定需求。
④ Handlers and Probers
STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分选机和探针测试台。每种类型的 STS 都由标准通信接口和Docking 接口所组成。NI 已与几乎所有在大多数工厂中发现的常见Handler and Prober对接过。以下视频介绍了分选机和探针测试台驱动程序的配置过程，并介绍如何在操作员界面配置模拟分选机。
