式中：t是所给置信概率下置信区间的包含因子;
σRef是参考标准正态分布的总体标准偏差，此参数可由技术指标中所给的扩展不确定度求得;
k是样本量修正因子，它是指在与σRef相同的置信概率的情况下，由于有限次测量而对应置信区间包含因子的修正值;
SDUT是被校准系统统计测量的实验标准偏差;
δ是参考标准与被校准系统统计测量的样本均值之差。
公式（1）推导如下：
设X1， X2分别为参考标准及被校准系统（DUT）的测量读数，X2的测量误差可简单表示为X1- X2。首先考虑用标准偏差来表示的标准不确定度，对于扩展不确定度，只需在各自分布的方差前乘以置信因子。
由概率论正态分布的定义可知，方差σ2就是无穷多次测得值误差平方的平均值。有：
又因为不确定度可用测量结果的统计分布来评价，对于正态分布可用标准偏差来表征。于是有：
在式（1）中σRef是由参考标准技术说明书中的扩展不确定度按B类标准不确定度计算而得。而对于大多数电子仪器公司如HP ， Fluke和Datron/Wavetek，它们给出的不确定度指标其置信概率均为99.7%，其置信区间半宽度包含因子为3。当采用这些公司的仪器作参考标准时，测量结果不确定度的置信概率也要求与之相当。而由于在实际测量中，测量次数有限，SDUT不是σ的无偏估计，当与参考标准不确定度取相同的置信概率时，必须对被校准系统的合成标准不确定度的置信区间半宽度进行修正。即SDUT乘以修正因子K。表1给出了95%和99%置信概率下，各种测量次数时k的取值。
